半導(dǎo)體芯片溫度沖擊試驗(yàn)箱尺寸(mm):

TS-49 內(nèi)箱尺寸：400×350×350 外箱尺寸：1400×1800×1400

TS-80 內(nèi)箱尺寸：500×400×400 外箱尺寸：1550×1950×1550

TS-150 內(nèi)箱尺寸：600×500×500 外箱尺寸：1600×2000×1700

TS-252 內(nèi)箱尺寸：700×600×600 外箱尺寸：1700×2100×1750

TS-450 內(nèi)箱尺寸：800×750×750 外箱尺寸：1800×2200×1900

TS-900 內(nèi)箱尺寸：1000×900×900 外箱尺寸：2100×2400×2200

溫度沖擊試驗(yàn)箱箱體結(jié)構(gòu)：

箱體采用數(shù)控機(jī)床加工成型,造型美觀大方,并采用無(wú)反作用把手,操作簡(jiǎn)便。

箱體內(nèi)膽采用進(jìn)口不銹鋼（SUS304）鏡面板,箱體外膽采用不銹鋼。

大型觀測(cè)視窗附照明燈保持箱內(nèi)明亮,且利用發(fā)熱體內(nèi)嵌式鋼化玻璃,隨時(shí)清晰的觀測(cè)箱內(nèi)狀況。

加濕系統(tǒng)管路與控制線路板分開(kāi),可避免因加濕管路漏水發(fā)生故障,提高安全性。

水路系統(tǒng)管路電路系統(tǒng)則采用門(mén)式開(kāi)啟,方便維護(hù)和檢修。

門(mén)與箱體之間采用雙層耐高溫之高張性密封條以確保測(cè)試區(qū)的密閉。

箱體左側(cè)配直徑50mm的測(cè)試孔,可供外接測(cè)試電源線或信號(hào)線使用

溫度沖擊試驗(yàn)箱控制系統(tǒng)：

溫濕度控制儀表采用進(jìn)口TEMI880 ,LED觸摸屏操作簡(jiǎn)單,程式編輯容易,無(wú)須按鍵輸入,屏幕直接觸摸選項(xiàng)。

控制器操作界面設(shè)中英文可供選擇,實(shí)時(shí)運(yùn)轉(zhuǎn)曲線圖可由屏幕顯示。

具有100組程式1000段999循環(huán)步驟的容量,每段時(shí)間設(shè)定值為99小時(shí)59分。

資料及試驗(yàn)條件輸入后,控制器具有熒屏鎖定功能,避免人為觸摸而停機(jī)。

具有RS-232或RS-485通訊界面,可在電腦上設(shè)計(jì)程式,監(jiān)視試驗(yàn)過(guò)程并執(zhí)行自動(dòng)開(kāi)關(guān)機(jī)等功能。

具有自動(dòng)演算的功能,可將溫濕度變化條件立即修正,使溫濕度控制更為穩(wěn)定。

升溫時(shí)間

-40℃～100℃約45min

-70℃～100℃約55min

降升溫時(shí)間

5℃～-60℃約65min

25℃～-70℃約80min

半導(dǎo)體芯片溫度沖擊試驗(yàn)箱 壹叁伍 叁捌肆陸 玖零柒陸 適用于電子、電工、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫交變濕熱環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)； 是各類(lèi)電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進(jìn)行耐寒、耐熱、耐濕、耐干性試驗(yàn)及品管工程的可靠性測(cè)試設(shè)備； 特別適用于光纖、LCD、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機(jī)等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、耐潮濕循環(huán)試驗(yàn)。